Laboratorium Mikroskopii Konfokalnej i Elipsometrii

Elipsometr spektralny M-2000 (J.A. Woollam Co., Inc. Ellipsometry Solutions)

Zakupiono i uruchomiono w maju 2010 r., koszt 290 917,64 zł brutto. Kontakt: dr Anna Karewicz, e-mail: karewicz@chemia.uj.edu.pl
prof. dr hab. Maria Nowakowska, e-mail: nowakows@chemia.uj.edu.pl

Zakupiony elipsometr jest urządzeniem o zmiennym kącie padania wiązki promieniowania na próbkę, umożliwiającym precyzyjne określenie grubości warstwy powierzchniowej oraz jej właściwości optycznych. Istnieje możliwość pomiaru w zakresie promieniowania od 246 do 998.5 nm. Elipsometr wyposażony jest w celkę cieczową LiquidCell o nominalnym kącie padania wiązki promieniowania 70º, dzięki czemu możliwe jest badanie zmian właściwości powierzchni w kontakcie z cieczą. Urządzenie posiada ponadto zdolność pracy w trybie transmisyjnym. Dołączone oprogramowanie ComleteEASE oraz WVASE32 pozwala na zbieranie danych pomiarowych oraz dopasowywanie modelu teoretycznego do uzyskanych wyników.

Mikroskop konfokalny (mikroskop odwrócony Nikon Ti-E z systemem konfokalnym Nikon A1)

Zakupiono i uruchomiono w listopadzie 2009 r., koszt 1 199 158,58 zł brutto. Kontakt: dr Mariusz Kępczyński, e-mail: kepczyns@chemia.uj.edu.pl
prof. dr hab. Maria Nowakowska, e-mail: nowakows@chemia.uj.edu.pl

System składa się z:

  • odwróconego mikroskopu optycznego wyposażonego w pięć obiektywów plan fluorytowych o powiększeniach 4x, 10x, 20x, 40x, 100x oil oraz trzy bloki filtrów fluorescencyjnych do barwników: DAPI, FITC, TRITC;
  • skanera konfokalnego posiadającego cztery niezależne kanały detekcyjne (fotopowielacze) dla fluorescencji oraz dodatkowy detektor światła przechodzącego;
  • skanera spektralnego 32-kanałowego zbierającego widma fluorescencji o zmiennej rozdzielczości (2,5 nm, 6 nm, 10 nm);
  • zestawu czterech laserów diodowych o liniach spektralnych: 405 nm, 488 nm, 561 nm, 638 nm;
  • oprogramowania NIS-Elements do sterowania mikroskopem z systemem konfokalnym oraz analizy otrzymanych mikrogramów.

Zakupiony mikroskop konfokalny umożliwia obrazowanie fluoryzujących obiektów o rozmiarach większych od 1 µm. Możliwa jest rejestracja widm fluoryzujących obiektów, a także pomiary intensywności fluorescencji w wybranym obszarze obrazu i/lub w czasie, tworzenie wirtualnych przekrojów poprzecznych i podłużnych, analiza widma fluorescencji w szerokim zakresie długości fal, FRET, FRAP, kolokalizacja, fotoaktywacja.