Laboratorium Inżynierii Analizy Nanowarstw i Biomedycznych Struktur Molekularnych TOF-SIMS

System statycznej i dynamicznej spektrometrii mas jonów wtórnych TOF-SIMS (ION-TOF GmbH)

Zakupiono i uruchomiono w grudniu 2010 r., koszt 6 438 438,00 zł brutto. Kontakt: dr Jakub Rysz, e-mail: jakub.rysz@uj.edu.pl

System TOF-SIMS 5 firmy ION-TOF pozwala na pracę w modzie statycznym oraz dynamicznym (z jednym lub dwoma działami), rejestrację widm masowych, profili głębokościowych, dwu- i trójwymiarowych map rozkładów pierwiastków, w tym również obrazowania obszarów makroskopowych. System grzania i chłodzenia pozwala na analizę próbek w temperaturach od -150°C do 600°C. Urządzenie wyposażone jest w komorę preparacyjną, w której można prowadzić pomiary stymulowanej termicznie desorpcji oraz modyfikować powierzchnie próbek za pomocą wiązki jonów lub elektronów.

Wirtualna panorama

System tworzenia i analizy układów cienkowarstwowych dla (bio)sensorów organicznych

Zakupiono i uruchomiono w okresie listopad 2009 r. - styczeń 2010 r. Kontakt: dr Jakub Rysz, e-mail: jakub.rysz@uj.edu.pl

Mikroskop skanującego próbnika typ Agilent5500 (Agilent Technologies)

Koszt zakupu systemu 1 103 248,00 zł. Zdjęcie 1.

Mikroskop SPM Agilent 5500 pozwala na pomiary w topografii (AFM), właściwości mechanicznych (LFM), elektrycznych (SSRM, KFM), magnetycznych (MFM) w trybie kontaktowym oraz bezkontaktowym zarówno w cieczy, jak i w powietrzu, dodatkowa przystawka pozwala na pomiary STM. Komora środowiskowa oraz precyzyjny system grzania (do 250ºC) i chłodzenia (do -30ºC) pozwalają na prowadzenie pomiarów w kontrolowanych warunkach środowiska. Dwie teflonowe komórki cieczowe (przepływowa i o stałej objętości), dodatkowe zabezpieczenia skanera oraz pozostałych elementów mikroskopu pozwalają na badanie powierzchni próbek również w środowisku rozpuszczalników organicznych.

Profilometr interferencyjny światła białego typ FR-Basic (ThetaMetrisis)

Koszt zakupu  79 300,00 zł. Zdjęcie 2.

Urządzenie pozwala na pomiar grubości cienkich warstw w zakresie od kilku nm do do kilku μm. Dodatkowe wyposażenie umożliwia pomiar współczynnika absorpcji, transmisji oraz odbicia, jak również widma fluorescencji.

Elementy do budowy systemu tworzenia cienkich warstw organicznych o zadanych gradientach właściwości fizykochemicznych.

Całkowity koszt zakupu to 157 146,98 zł. Zdjęcia: 3, 4, 5 i 6.

  • Piecyk gradientowy umożliwiający wygrzewanie próbek w atmosferze gazów neutralnych lub próżni. Zdjęcie 3.
  • Szczelna komora umożliwiająca pracę w atmosferze gazów neutralnych (glovebox). Zdjęcie 4.
  • Systemu przesuwów liniowych firmy Newport wraz z kontrolerem, które zostaną wykorzystane do budowy układów do nanoszenia warstw organicznych z roztworu metodą dip-coating oraz flow-coating. Zdjęcie 5.

System do pomiarów kąta zwilżania oraz wyznaczania napięcia powierzchniowego metodą kropli wiszącej typu EasyDrop (Kruss)

Zakupiono i uruchomiono w grudniu 2009 r., koszt zakupu  91 402,40 zł, Kontakt: dr Jakub Rysz, e-mail: jakub.rysz@uj.edu.pl

System EasyDrop pozwala na wyznaczenie napięcia powierzchniowego dowolnej cieczy metodą kropli wiszącej oraz wyznaczenie kąta zwilżania.Dzięki dodatkowej komorze wszystkie parametry mogą być wyznaczane w funkcji temperatury.

Mikroskop fluorescencyjny BX-51 (Olympus)

Zakupiono i uruchomiono w grudniu 2009 r., koszt 178 440,81 zł. Kontakt: dr Jakub Rysz, e-mail: jakub.rysz@uj.edu.pl

Mikroskop wyposażony jest:
  • kamerę CCD typ DP72 o rozdzielczości 12,8 mega z matrycą chłodzoną elementem Peltiera;
  • oświetlacz halogenkowy oraz zestaw filtrów pozwalający na obserwację fluorescencji typowych barwników;
  • polaryzatory pozwaląjce na obserwację w świetle spolaryzowanym.

Elementy do budowy systemu charakteryzacji właściwości elektrooptycznych cienkich warstw organicznych

Zakupiono w grudniu 2009 r., koszt zakupu 212 890,00 zł. Kontakt: dr Jakub Rysz, e-mail: jakub.rysz@uj.edu.pl

W skład systemu wchodzą:
  • Oświetlacz XE 150W wraz z filtrem AM1.5;
  • Sterowany komputerowo monochromator Cornerstone™ 260 wraz z oświetlaczem XE 300W, zestawem filtrów, dwoma detektorami Si oraz nanowoltomierzem fazoczułym typu SRS-530 firmy Stanford Research Systems.